logo
Gửi tin nhắn
Giá tốt.  trực tuyến

Chi tiết sản phẩm

Nhà > các sản phẩm >
chứng nhận
>
Thử nghiệm nhiệt độ thấp và lưu trữ Thiết bị quân sự và dân sự

Thử nghiệm nhiệt độ thấp và lưu trữ Thiết bị quân sự và dân sự

Thông tin chi tiết
Làm nổi bật:

Khả năng thích nghi với các thí nghiệm nhiệt độ thấp

,

Khả năng thích nghi của thiết bị dân sự

,

Khả năng thích nghi của thiết bị quân sự

Mô tả sản phẩm

Xét nghiệm nhiệt độ thấp
Đưa ra dự án
Mục đích của thử nghiệm nhiệt độ thấp là kiểm tra liệu mẫu có thể được lưu trữ, thao tác và kiểm soát trong môi trường nhiệt độ thấp lâu dài hay không,và xác định khả năng thích nghi và độ bền của thiết bị quân sự và dân sự được lưu trữ và hoạt động trong điều kiện nhiệt độ thấpCác đặc tính vật lý và hóa học của vật liệu ở nhiệt độ thấp. Tiêu chuẩn có các yêu cầu tiêu chuẩn cho điều trị trước thử nghiệm, thử nghiệm ban đầu, lắp đặt mẫu, thử nghiệm trung gian,xử lý sau thử nghiệm, tốc độ sưởi ấm, điều kiện tải trọng của tủ nhiệt độ và tỷ lệ khối lượng của vật thể được thử nghiệm và tủ nhiệt độ.

Phương thức thất bại của các mẫu trong điều kiện nhiệt độ thấp: các bộ phận và vật liệu được sử dụng trong sản phẩm có thể nứt, mỏng, các bộ phận di động có thể bị mắc kẹt và các đặc điểm có thể thay đổi ở nhiệt độ thấp.

Hiệu ứng của nhiệt độ thấp
1. Làm cho vật liệu cứng và dễ vỡ;
2. Tăng độ nhớt của chất bôi trơn, giảm khả năng dòng chảy và giảm hiệu ứng bôi trơn;
3. Thay đổi trong hiệu suất của các thành phần điện tử;
4. Chất ngưng tụ và đông lạnh nước;
5. Sự cố niêm phong;
6. Thay đổi cấu trúc cơ học do thu hẹp vật liệu.
Phạm vi áp dụng
Thử nghiệm nhiệt độ thấp chủ yếu được sử dụng cho các thí nghiệm nhiệt độ thấp và lưu trữ các vật liệu đặc biệt như nghiên cứu khoa học, lưu trữ các vật tư y tế, sản phẩm sinh học, sản phẩm đại dương,Các thành phần điện tử, và vật liệu hóa học.
Tiêu chuẩn phương pháp
GB/T2423.1-2008 "Kiểm tra môi trường cho các sản phẩm điện và điện tử Phần 2: Phương pháp thử nghiệm Kiểm tra A: Nhiệt độ thấp"
IEC 60068-2-1:2007 "Kiểm tra môi trường cho các sản phẩm điện và điện tử Phần 2: Phương pháp thử nghiệm Kiểm tra A: Nhiệt độ thấp"

Chi tiết sản phẩm

Nhà > các sản phẩm >
chứng nhận
>
Thử nghiệm nhiệt độ thấp và lưu trữ Thiết bị quân sự và dân sự

Thử nghiệm nhiệt độ thấp và lưu trữ Thiết bị quân sự và dân sự

Thông tin chi tiết
Làm nổi bật:

Khả năng thích nghi với các thí nghiệm nhiệt độ thấp

,

Khả năng thích nghi của thiết bị dân sự

,

Khả năng thích nghi của thiết bị quân sự

Mô tả sản phẩm

Xét nghiệm nhiệt độ thấp
Đưa ra dự án
Mục đích của thử nghiệm nhiệt độ thấp là kiểm tra liệu mẫu có thể được lưu trữ, thao tác và kiểm soát trong môi trường nhiệt độ thấp lâu dài hay không,và xác định khả năng thích nghi và độ bền của thiết bị quân sự và dân sự được lưu trữ và hoạt động trong điều kiện nhiệt độ thấpCác đặc tính vật lý và hóa học của vật liệu ở nhiệt độ thấp. Tiêu chuẩn có các yêu cầu tiêu chuẩn cho điều trị trước thử nghiệm, thử nghiệm ban đầu, lắp đặt mẫu, thử nghiệm trung gian,xử lý sau thử nghiệm, tốc độ sưởi ấm, điều kiện tải trọng của tủ nhiệt độ và tỷ lệ khối lượng của vật thể được thử nghiệm và tủ nhiệt độ.

Phương thức thất bại của các mẫu trong điều kiện nhiệt độ thấp: các bộ phận và vật liệu được sử dụng trong sản phẩm có thể nứt, mỏng, các bộ phận di động có thể bị mắc kẹt và các đặc điểm có thể thay đổi ở nhiệt độ thấp.

Hiệu ứng của nhiệt độ thấp
1. Làm cho vật liệu cứng và dễ vỡ;
2. Tăng độ nhớt của chất bôi trơn, giảm khả năng dòng chảy và giảm hiệu ứng bôi trơn;
3. Thay đổi trong hiệu suất của các thành phần điện tử;
4. Chất ngưng tụ và đông lạnh nước;
5. Sự cố niêm phong;
6. Thay đổi cấu trúc cơ học do thu hẹp vật liệu.
Phạm vi áp dụng
Thử nghiệm nhiệt độ thấp chủ yếu được sử dụng cho các thí nghiệm nhiệt độ thấp và lưu trữ các vật liệu đặc biệt như nghiên cứu khoa học, lưu trữ các vật tư y tế, sản phẩm sinh học, sản phẩm đại dương,Các thành phần điện tử, và vật liệu hóa học.
Tiêu chuẩn phương pháp
GB/T2423.1-2008 "Kiểm tra môi trường cho các sản phẩm điện và điện tử Phần 2: Phương pháp thử nghiệm Kiểm tra A: Nhiệt độ thấp"
IEC 60068-2-1:2007 "Kiểm tra môi trường cho các sản phẩm điện và điện tử Phần 2: Phương pháp thử nghiệm Kiểm tra A: Nhiệt độ thấp"